|本期目录/Table of Contents|

[1]刘梅,钟艳.采用能量色散Ｘ射线荧光仪测定分子筛中硫酸根离子的含量[J].石化技术与应用,2013,4:0.
点击复制

采用能量色散Ｘ射线荧光仪测定分子筛中硫酸根离子的含量(PDF)

《石化技术与应用》[ISSN:1009-0046/CN:62-1138/TQ]

期数:
2013年4期
页码:
0
栏目:
出版日期:
2013-07-01

文章信息/Info

Title:
-
作者:
刘梅; 钟艳
中国石油兰州石化公司催化剂厂，甘肃兰州７３００６０
Author(s):
-
关键词:
能量色散Ｘ射线荧光仪; 硫酸根离子; 分子筛
Keywords:
-
分类号:
-
DOI:
-
文献标识码:
-
摘要:
建立了采用能量色散Ｘ射线荧光仪测定分子筛中硫酸根离子含量的分析方法，考察了所建方法的准确度和精密度。结果表明，在测试介质为空气，工作电压为６ｋＶ，工作电流为２００μＡ，计数时间为１８０ｓ，最小ＲＯＩ为２．１９８，最大ＲＯＩ为２．４３３的测试条件下，工作曲线的线性相关系数为０．９９９３；测定２０个ｗ（ＳＯ２－４ ）为０．１３％ ～１．５０％的工业分子筛样品，方法的准确度（绝对误差）为０．０１％ ～０．１４％，平均值为０．０３％；测定８个ｗ（ＳＯ２－４ ）为０．１５８％ ～３．３２１％的标准试样，每个样品测试１０次，方法的精密度（相对标准偏差）为０．４１％ ～２．９４％。
Abstract:
-

参考文献/References

-

备注/Memo

备注/Memo:
-
更新日期/Last Update: 2013-07-10